接近傳感器是以光電傳感器、接近傳感器等為主體的檢測接近傳感器，半導(dǎo)體一般會在使用初期發(fā)生故障，其原因是使用在回路中的半導(dǎo)體，在制造中受到種種應(yīng)力而導(dǎo)致在使用開始后的短期內(nèi)發(fā)生破損；另外，功率比半導(dǎo)體低的電阻、電容也是造成使用初期故障的原因。初期故障的發(fā)生時間。

　　接近傳感器包括偶爾故障和使用初期故障，偶爾故障包括半導(dǎo)體部件的不良而引起的故障，電阻、電容的短線、短路、容量不足，電路板的電路斷裂，帶焊料等的不良現(xiàn)象，但發(fā)生率極低。接近傳感器經(jīng)常發(fā)生故障時，可以考慮為使用環(huán)境的問題。

　　接近傳感器負(fù)荷短路與配線錯誤

　　由于配線錯誤或帶電作業(yè)引起負(fù)荷短路時，導(dǎo)致大電流流向檢測接近傳感器，輸出回路燒毀。作為在檢測接近傳感器外進(jìn)行的保護(hù)對策，可使用切斷快速熔斷器短路電流的方法，通過熔斷器進(jìn)行保護(hù)，不僅可保護(hù)負(fù)荷短路，還對地線有保護(hù)作用。但是，由于開關(guān)內(nèi)的輸出晶體管的殘余容量小，達(dá)不到百分百的效果。

　　干擾波導(dǎo)致的破損

　　由干擾波帶來的破損是慢慢形成的，因此在開始使用后的一個月或二三個月后發(fā)生破損是極其普通的。因此，在該器件發(fā)生破損時，其原因則可判斷為干擾波。電感負(fù)載開閉時發(fā)生的檢測接近傳感器的瞬間錯誤動作時由干擾波造成的。